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如何為紅外測(cè)溫儀找到合適的發(fā)射率設(shè)置？

2025-06-06

什么是發(fā)射率？

發(fā)射率是衡量表面發(fā)出紅外能量效率的指標(biāo)。對(duì)于大多數(shù)材料來(lái)說(shuō)，發(fā)射率與反射率相反。高發(fā)射率的表面更容易被紅外測(cè)溫儀測(cè)量；而低發(fā)射率則會(huì)增加測(cè)量難度。

大多數(shù)非金屬、非反光材料的發(fā)射率通常約為0.95。這也是IMPAC傳感器的默認(rèn)設(shè)置。
上海明策的IMPAC紅外測(cè)溫傳感器配有可調(diào)節(jié)發(fā)射率設(shè)置，以適應(yīng)更廣泛的目標(biāo)材料。調(diào)節(jié)方式因型號(hào)而異，可能采用旋轉(zhuǎn)開(kāi)關(guān)、按鈕、觸控屏，或通過(guò)USB/RS485接口訪(fǎng)問(wèn)傳感器內(nèi)部存儲(chǔ)的參數(shù)進(jìn)行設(shè)置。

2000℃高溫材料光譜發(fā)射率測(cè)量：?超高溫黑體+FTIR光譜儀

2025-06-05

能量對(duì)比法是一種基于發(fā)射率定義的直接測(cè)量方法。具體而言，在相同的溫度、波長(zhǎng)和視角條件下，測(cè)量待測(cè)材料與理想黑體的輻射能量，二者之比即為材料在該條件下的光譜發(fā)射率。

INFRAMET面源黑體：mk級(jí)溫度穩(wěn)定性，面源可定制至500mm

2025-06-03

TCB 系列：熱電控低溫黑體，適用于0°C至+100°C范圍（可擴(kuò)展至-40°C~+150°C），溫度分辨率和穩(wěn)定性均達(dá)到1 mK，發(fā)射率高達(dá)0.98（可選0.99）。應(yīng)用于冷卻型熱像儀測(cè)試、標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量及科研等高要求領(lǐng)域。

熱像儀NETD、MRTD檢測(cè)與評(píng)價(jià)系統(tǒng)應(yīng)用方案—遼寧電科院

2025-06-03

NETD測(cè)試方法：
系統(tǒng)通過(guò)對(duì)高均勻度黑體目標(biāo)進(jìn)行圖像采集，計(jì)算熱像儀信號(hào)峰值與系統(tǒng)噪聲的信噪比，當(dāng)SNR=1時(shí)的溫差即為NETD。實(shí)驗(yàn)結(jié)果顯示，在不同環(huán)境溫度（12℃、22℃、34℃）下，多次測(cè)量值之間偏差均小于5%，驗(yàn)證了系統(tǒng)的穩(wěn)定性與測(cè)試精度。

紅外熱像技術(shù)在激光金屬沉積（LMD）過(guò)程中的監(jiān)測(cè)與缺陷控制

2025-05-30

紅外熱成像技術(shù)，特別是短波紅外相機(jī)結(jié)合激光濾波器的應(yīng)用，能夠在LMD過(guò)程中實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)、非接觸式的溫度監(jiān)測(cè)。相比傳統(tǒng)的單點(diǎn)測(cè)溫（如雙波長(zhǎng)高精度紅外計(jì)），熱成像相機(jī)可提供面狀溫度分布信息，極大提升了缺陷檢測(cè)的空間分辨率與靈敏度。例如，使用的IMPAC IGA 320/23-LO單色高溫計(jì)/IMPAC IGAR 12-LO two-color pyrometer（IMP）能在150–1200?°C范圍內(nèi)準(zhǔn)確探測(cè)熱變化，定位并跟蹤微裂紋。

LumaSense M330黑體爐應(yīng)用于高溫輻射測(cè)溫校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)

2025-05-29

實(shí)驗(yàn)采用恒溫爐構(gòu)建背景溫度為1023 K的高溫環(huán)境，使用Inconel 718樣品作為測(cè)溫對(duì)象，設(shè)置K型熱電偶測(cè)量真實(shí)溫度，采用三類(lèi)輻射測(cè)溫方法（單色、雙色、多波段）進(jìn)行測(cè)量，并引入LumaSense M330作為標(biāo)準(zhǔn)黑體源進(jìn)行系統(tǒng)誤差分析和校準(zhǔn)。

?基于X點(diǎn)發(fā)射率原理的2273K高溫金屬發(fā)射率測(cè)量系統(tǒng)

2025-05-28

在實(shí)際測(cè)溫過(guò)程中，金屬材料表面的發(fā)射率常隨溫度、氧化狀態(tài)及表面粗糙度發(fā)生變化，成為輻射溫度誤差的主要來(lái)源。X點(diǎn)發(fā)射率（X-point emissivity）指在特定波長(zhǎng)處，金屬材料不同溫度下的發(fā)射率曲線(xiàn)交匯于一點(diǎn)，其發(fā)射率對(duì)溫度變化不敏感，天然具備溫度獨(dú)立性，是解決非接觸測(cè)溫中“發(fā)射率不確定性”的理想突破口。

然而，以往該原理僅停留在理論或?qū)嶒?yàn)室初級(jí)驗(yàn)證階段，缺乏完整的實(shí)驗(yàn)平臺(tái)與測(cè)量流程。我們首次實(shí)現(xiàn)了理論建?！獢?shù)值仿真—實(shí)驗(yàn)測(cè)量—溫度反演的一體化系統(tǒng)，真正讓X點(diǎn)測(cè)溫成為工程現(xiàn)實(shí)。

紅外成像儀MRTD測(cè)試的影響因素分析與系統(tǒng)應(yīng)用

2025-05-27

紅外成像系統(tǒng)在軍事偵察、工業(yè)檢測(cè)及安防等領(lǐng)域已形成廣泛應(yīng)用，其成像性能的定量評(píng)估成為系統(tǒng)研制與驗(yàn)收中的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。其中，最小可分辨溫差（MRTD）是衡量熱像儀空間分辨與熱靈敏度綜合能力的重要指標(biāo)。然而，MRTD測(cè)試不僅受系統(tǒng)噪聲、調(diào)制傳遞函數(shù)（MTF）及顯示終端性能等因素影響，更受到采樣相位變化的顯著干擾，導(dǎo)致實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)偏離理論值。

為提升測(cè)試精度與結(jié)果一致性，本文在已有理論研究的基礎(chǔ)上，結(jié)合Inframet公司DT系列紅外測(cè)試系統(tǒng)的應(yīng)用案例，探討通過(guò)先進(jìn)設(shè)備和參數(shù)調(diào)控手段，提升MRTD測(cè)試準(zhǔn)確性與實(shí)用性的方法路徑。

IMPAC IGA 6/23光學(xué)高溫計(jì)：高溫材料制備時(shí)的非接觸真空測(cè)溫方案

2025-05-26

隨著先進(jìn)材料科學(xué)的發(fā)展，對(duì)高溫過(guò)程的精確控制提出了前所未有的要求。無(wú)論是二維材料的金屬嵌入、半導(dǎo)體界面調(diào)控，還是新型磁性納結(jié)構(gòu)的構(gòu)建，高溫環(huán)境下的過(guò)程控制都是決定最終結(jié)構(gòu)與性能的關(guān)鍵因素。在此背景下，IMPAC IGA 6/23 Advanced 光學(xué)高溫計(jì)，以其非接觸、高精度、響應(yīng)快等特性，成為眾多高端科研項(xiàng)目及工業(yè)應(yīng)用的優(yōu)選測(cè)溫設(shè)備。

?Mikron M330黑體爐：校準(zhǔn)不同波段（UV-VIS-NIR）高溫計(jì)探測(cè)器

2025-05-16

多波長(zhǎng)高溫計(jì)通常由多個(gè)探測(cè)器組成，用以覆蓋紫外（UV）、可見(jiàn)光（VIS）和近紅外（NIR）多個(gè)波段。本文所述的測(cè)溫系統(tǒng)使用CCD（200–1050 nm）和InGaAs（1000–1700 nm）兩種探測(cè)器。在實(shí)際應(yīng)用中，不同波段的探測(cè)器對(duì)相同溫度下的輻射響應(yīng)存在差異，因此需要通過(guò)黑體輻射源建立其輻射傳遞函數(shù)（Radiation Transfer Function, RTF），以實(shí)現(xiàn)輻射強(qiáng)度到真實(shí)溫度的準(zhǔn)確反演。